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Maßstab I/II Europäisches Patentamt, München, Installation in zwei Treppenhäusern des Verwaltungsgebäudes in der Bayerstraße München 2005
Maßstab I Ort: Treppenhaus 1, Europäisches Patentamt, München, Schräglage: 2,5 Grad;
Höhe: 24,5m, Aluminium / Lack / Gelb / Grau
Maßstab 2 Ort: Treppenhaus 2, Europäisches Patentamt, München, Schräglage: 3,5 Grad;
Höhe: 20,5m, Aluminium / Lack / Orange / Hellgrün
Das Europäische Patentamt in München setzt richtungweisende Standards und Maßstäbe zum Schutz geistigen Eigentums. Die Installation "Maßstab I/II" von Susanne Pittroff greift raum- und ortsbezogen die unterschiedlichen Bedeutungsebenen der Begriffe "Richtlinie" und "Maßstab" bzw. "Norm" auf, um diese mit den Maßgaben der Kunst zu reflektieren.
Statik: Lieb und Obermayr Technische Entwicklung und Herstellung:
Christian Krebs und Thomas Kirner
Lackierung: Davor |